BGA、LGA的Void(空洞)分析改善
目 录
1、背景目的
2、BGA和LGA的Void发生的原因。
3、Reflow中的Void形成过程。
4、Void抑制方法的检验。
4-1、Reflow Profile和Void的研究 ;
4-2、LGA的Solder Paste和Void的关系;
4-3、LGA Solder Paste印刷和Void的关系。
5、LGA 的Void不良零技朮。
6、BGA变形的原理(参考)。
背景目的
1-1背景:
随着实装的高密度化的推进,元件特别是IC、端子等电 极的构造变化显著。
根据电极的变化,以前的焊接技朮已经不能正确的焊接 元件了,其中最有代表性的是采用LGA、BGA的IC工厂。
LGA、BGA等CHIP元件由开放型焊接向密闭型焊接变化。
LGA、BGA-IC最大的问题是在接合部发生的“Void”。
1-2目的:
1、) LGA、BGA-IC不产生Void焊接技朮成为实用化。
2、) 能够在高密度实装基板、大型主板上没有Void进行实装,提高接合的可靠性。
LGA和BGA的VOID发生原因
。为防止LGA、BGA的void发生,解开void发生的原理相当重要。
。为防止LGA、BGA的void发生是受锡膏的熔融的变化影响的。
。解开这些变化过程,就可以提出void的对策。
发生原理:
1、因为焊锡表面张力,焊锡向中心部集中。
2、因为表面张力void密闭
3、要排除void抑制焊锡表面张力是很必要的。
模拟回流炉中LGA Solder Past的变化
为了解开实际的LGA、BGA的焊接有必要做模拟。
Void抑制方法的检验
原因分析的结果,为了防止BGA、LGA发生Void,要推进以下工作:
1、Reflow Profile 锡膏助焊剂的设计。
2、锡膏印刷。
3、 Reflow Profile 的3项目须同时改善,一个一个改善没有效果。
Void抑制方法的检验
LGA的Reflow Profile和void发生量的检验
Reflow Profile的void发生量的检验按照下面3项记录条件执行﹕
1、公司内一般使用的Profile
2、改善的Profile
3、考虑现在生产的Profile
LGA的锡膏和void的发生量的验証
做LGA的solder paste的void发生量试验
LGA的solder paste和void发生量的验証
结论:void对策品的VL取得良好的结果,比较符合密闭型的焊接,
FLUX的变化稳定。solder paste(粒度、FLUX)的使用重要
做LGA的solder paste印刷厚130um和150um瓦斯排出和印刷形状的有无条件。
130um | 150um |
全面印刷 | 全面印刷 |
缺口印刷 | 缺口印刷 |
LGA的solder paste印刷量和void发生的检証
结论 :因为印刷厚度引起的void发生量很少。
从FLUX发生的瓦斯被排出。
缺口印刷效果大
要有充足的锡膏印刷量确保能够排出瓦斯的印刷形状。
BGA的Void不良零技朮
按照以前的观念,表面实装技朮上还不能实现Void为零,为了实现Void零不良需要满足以下条件,在实际生产上要严密考虑元件电极和PAD间锡膏印刷,装载元件以及Reflow等条件。
LGA、BGA的void零不良技朮
(1)元件电极和基板Pad的Space(容积)。
根据电极的种类电极size和pad size不同,要对一个一个元件分
别测量。要注意元件有平面电极和凹面电极。
(2) Space(容积)熔融后必要的焊锡量(焊锡容积)的设计
熔融后根据锡膏的种类不同大约是印刷焊锡量的50-60%.
(3)确保必要的焊锡量,防止void发生,要设计锡膏的印刷厚度和印刷形状
(钢网设计)。
(4)使用锡膏的选定。
。防止void的发生,焊锡的size、活性剂、溶剂的种类。
。推荐值:焊锡粒子:25-45um,活性剂多,溶剂:标准高沸点低。
(5)Reflow Profile的设计。
参考使用锡膏推荐值。
零件低面Pad-Viod零技朮
熔融后锡膏厚度测定
现在 ﹕
1﹑Pad size :
钢网开口部1﹕1
2﹑钢网0.127
void対策钢网开口例(1)
对策案例
理想形状
void対策钢网开口例(2)
对策案例
理想形状
Void对策钢网开口例
对策案
理想形状
BUMP变形的推定原理
Reflow中BUMP变形的过程
不同形状的LAND的BGA异常发生数
1、2次面实装后的LGA刮刀中BUMP变形
在同一视角下K2-V和VL的REFLOW状态(X线)
传播真知,赋能智造;
若有帮助,甚是荣幸!
END