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前面文章我们介绍了芯片测试中SCAN的介绍：CP测试中的Scan测试介绍，那么，什么是Bscan呢？两者之间有什么区别呢？这篇文章带你一探究竟！
Bscan（Boundary Scan，边界扫描）是一种用于芯片测试和调试的技术，主要用于检测和诊断芯片内部或PCB（印刷电路板）上的互连故障。它是JTAG（Joint Test Action Group, IEEE 1149.1）标准的一部分，广泛用于数字电路的测试、调试和故障分析。
1.Bscan的基本原理
Bscan技术通过在芯片的I/O引脚周围添加边界扫描单元（Boundary Scan Cells），形成一个可控的数据通道。它的工作流程如下：
（1）测试访问端口（TAP，Test Access Port）：芯片内部包含一个TAP控制器，允许外部设备通过JTAG接口访问芯片。
（2）边界扫描寄存器（Boundary Scan Register）：每个I/O引脚对应一个寄存器单元，用于存储和传输测试数据。
（3）扫描链（Scan Chain）：多个Bscan单元连接成串行链路，使测试数据可以逐步传输和分析。
（4）模式选择：
旁路模式（Bypass）：允许信号正常传输，不影响芯片功能。
测试模式（Test Mode）：激活Bscan单元，使其能够捕获、存储和转发数据，进行测试。
2.Bscan的主要应用
PCB板测试：检测焊接不良、短路、开路等连接问题。
芯片级测试：对SoC、FPGA等芯片进行内部连接性检查。
系统调试（In-System Debugging）：用于软件开发中的调试，如调试CPU、存储器等外设。
IC老化测试（Burn-in Test）：在高温或长时间运行后检查芯片可靠性。
3.Bscan在半导体测试中的作用
在芯片的CP（晶圆测试）和FT（成品测试）阶段，Bscan可用于：
发现封装后芯片的I/O互连问题，提高测试覆盖率。
结合ATE（自动测试设备）进行结构级测试，提高测试效率。
作为调试手段，分析复杂的功能失效。
Bscan的优势在于无需物理探针即可进行电气测试，适用于现代高密度PCB和复杂芯片结构，在芯片制造、组装及系统级测试中具有重要作用。
4.Bscan和 Scan区别
（1）定义与基本区别
技术 | Bscan | Scan |
|---|---|---|
定义 | 一种基于 JTAG（IEEE 1149.1）标准的边界扫描测试技术，主要用于I/O 互连测试 | 一种用于芯片内部逻辑测试的结构化测试技术，通常用于 ATPG（自动测试向量生成） |
测试对象 | 芯片 I/O 及 PCB 板级互连测试（检测短路、开路等问题） | 芯片内部逻辑单元测试（检测逻辑门、寄存器等内部故障） |
实现方式 | 在芯片 I/O 引脚周围增加边界扫描单元，并形成扫描链 | 在芯片内部设计扫描链，将寄存器级逻辑连接成串行路径 |
使用接口 | 通过 JTAG 接口进行测试 | 通过 ATE（自动测试设备）进行测试 |
主要用途 | - PCB 互连测试- I/O 引脚测试- 系统级调试 | - ATPG 逻辑测试（结构化测试）- 过渡故障、延迟故障检测- 提高芯片可测试性 |
（2）形象理解
Bscan = 外部互连测试（I/O 级别） → 检查芯片外部和 PCB 的连接是否正常。
Scan = 内部逻辑测试（门级/寄存器级） → 检查芯片内部逻辑是否正常。
在芯片测试流程中，Bscan 主要用于 I/O 互连测试，而 Scan 主要用于 ATPG 逻辑测试，两者可以结合使用，以提升芯片的测试覆盖率。
